MOF薄膜用于硫化氢气体荧光增强型探针和图案防伪

硫化氢气体是一种常见的工业气体,也是一种大气污染物,因此对硫化氢气体的实时检测具有十分重要的意义。当前 道的硫化氢荧光探针大多是在溶液中进行探测的,能检测硫化氢气体的荧光探针还鲜有 道。

浙江大学钱国栋教授等人在Science China Materials上发表研究论 ,他们利用后修饰的具有荧光发光潜力的薄膜,MIL-100(In)@Eu3+/Cu2+,在室温下首次实现了对硫化氢气体的荧光增强型检测,检测限可达0.535 ppm。此探针的设计是基于硫化氢气体与Cu2+的强结合力。当形成CuS之后,有机配体与Eu3+之间的“天线效应”恢复,使得Eu3+的荧光发射增强。这个荧光探针的性能可以与溶液中检测硫化氢的荧光探针相媲美,并且不输于传统的半导体型硫化氢气体探针。

MIL-100(In)@Eu3+/Cu2+荧光探针的制备。

此外,由于MIL-100(In)薄膜表面平整度高且具有未配位的羧基基团,钱教授等人还利用稀土离子溶液在其表面上实现了多色防伪图案。

图 2 用镧系离子墨在MIL-100(In) 膜上书写的图案在自然光(a1)和紫外光(a2–a5)下的照片;图案浸入热水后在自然光 (b1)和紫外光(b2–b5)下的照片。a2: Eu3+墨; a3: Tb3+墨; a4: Dy3+墨。

Science China Materials, 2019, 10.1007/s40843-019-9457-5。

MOFs合集(SCMs,2017~2019)

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